近日,德國亞琛工業大學(RWTH Aachen University)的劉思達博士生(第一作者),與中科院寧波材料所的常可可教授(唯一通訊作者)等基於組合磁控濺射實驗,熱力學建模與第一性原理計算,研究了在各種襯底溫度和沉積速率下,薄膜應力對V1-xAlxN和Ti1-xAlxN薄膜的亞穩相形成的影響。基於先前的工作(Acta Mater, 2019, 165: 615-625),時隔一年在Acta Materialia上再次發表了題為「Stress-dependent prediction of metastable phase formation for magnetron-sputtered V1−xAlxN and Ti1−xAlxN thin films」的研究論文。作者首次在過渡族金屬氮化物薄膜的相形成模型中引入應力因素,將Al臨界固溶度(xmax)的預測範圍進行擴展(V1-xAlxN:0.62 < xmax ≤ 0.77; Ti1-xAlxN:0.79 < xmax ≤ 0.90),並與實驗結果相吻合。這是先前基於能量的理論模型所無法做到的。
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https://doi.org/10.1016/j.actamat.2020.06.044
亞穩相過渡族金屬氮化物(TMAlN,TM = Ti,V)薄膜是通過離子氣相沉積技術進行製備的,其中離子通量和離子能量的變化會引起薄膜中應力的變化,進而影響Al在面心立方相(fcc)中的固溶度。雖然已構建了TiAlN薄膜的亞穩相形成模型,但薄膜應力對相形成的重要影響仍被忽略。
通過組合磁控濺射實驗,熱力學建模和第一性原理計算,我們研究了在各種化學成分、襯底溫度和沉積速率下V1-xAlxN和Ti1-xAlxN薄膜的亞穩相形成。第一性原理計算的結果表明,Al在fcc-V1-xAlxN或fcc-Ti1-xAlxN中的最大固溶度與壓應力值呈線性關係。
我們利用單次組合沉積的實驗數據,結合理論計算,定量預測了應力作用下薄膜的亞穩相形成情況。薄膜應力的考慮,使V1-xAlxN和Ti1-xAlxN薄膜的Al溶解度極限得到了擴展。以上理論預測已經過實驗驗證,進而為提高fcc-TMAlN薄膜中的Al固溶度極限提供指導。
表1:組合磁控濺射技術製備薄膜材料的實驗參數
圖1:XRD衍射圖(550 ℃,2.3 W cm-2)
圖2:熱力學模型(基於CALPHAD方法)
圖3:亞穩態VN-AlN相形成圖(未考慮薄膜應力的影響)
圖4:電子衍射圖
圖5:第一性原理計算Ground-stateenthalpies (V1-xAlxN)
圖6:亞穩態VN-AlN相形成圖(考慮薄膜應力的影響)與文獻值的對比
總的來說,本文基於一次組合磁控濺射實驗,CALPHAD熱力學模型和第一性原理計算,提出了一種考慮應力影響的TM1-xAlxN(TM = Ti,V)薄膜的亞穩相形成模型。該模型表明fcc-TM1-xAlxN中的Al固溶度極限與壓應力呈線性關係。薄膜應力每增加5 GPa, Al固溶度極限在fcc-V1-xAlxN和fcc-Ti1-xAlxN中,分別增大0.15和0.13。
將應力因素引入到相形成的預測模型中,其計算結果表明Al固溶度的預測範圍得到了進一步擴大。與之前不考慮應力的純能量模型相比,該模型與實驗數據的吻合度大大提高。研究首次發現fcc-V1-xAlxN中Al固溶度預測值可以達到0.42的極低值,並且已通過極低速率的氣相沉積對這一預測進行了實驗驗證。本文提出的相預測模型為控制和擴展fcc-TM1-xAlxN薄膜中Al的溶解度極限提供了指導。
*感謝論文作者團隊對本文的大力支持。
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