目前X射線晶體衍射結構分析手段只能對具有周期性結構的晶體實現原子級的三維顯微結構分析,而X射線相干衍射成像可以實現對非周期性結構物體具有原子級空間分辨能力,然而這種方法卻需要全相干X射線照明,存在較大的局限性。X射線強度關聯量子成像技術將可見光波段的強度關聯量子成像技術拓展到X射線波段,利用非相干X射線對非周期性結構物體實現具有原子級空間分辨能力,為解決現有X射線顯微成像技術中的原理性難題,進一步提高其成像解析度提供了一條在成像原理上不同於以往的全新的技術途徑。
中科院上海光學精密機械研究所量子光學重點實驗室韓申生課題組與上海光源BL13W1成像線站密切合作,突破傳統X射線成像光學理論框架,利用波長0.1nm的非相干X射線,通過測量光場的二階強度關聯函數,在菲涅爾區獲得了非晶態復振幅樣品的傅立葉變換衍射譜,並且在實空間成功重建了樣品的振幅和相位分布,在國際上首次實驗演示了X射線傅立葉變換關聯成像。相關結果發表在2016年9月7日國際物理學期刊《物理評論快報》上(「Fourier-Transform Ghost Imaging with Hard X Rays」, Phys. Rev. Lett. 117, 113901 (2016))。隨後該論文被選為PRL Editors』 Suggestion,並且迅速被美國物理學會(APS)的Physics [Physics?9, 103 (2016)],美國物理聯合會(AIP)的Physics Today,以及英國物理學會(IOP)的Physicsworld.com報導。
X射線傅立葉變換強度關聯成像(FGI)是通過測量光場的漲落及其關聯獲取樣品傅立葉變換衍射譜信息,成像樣品無需結晶,其成像解析度僅受限於X射線波長,因此,理論上可實現原子級分辨,且不要求光源的高空間相干性,可以採用自由電子雷射以外的非相干X光源實現細胞組織以及功能材料內部結構納米顯微,具有廣泛的應用前景。同時,也為原則上不可能獲得高亮度相干源的費米子(如中子、電子等)衍射成像提供了全新的技術途徑。 (先進成像及工業應用部 供稿)
圖1 X射線傅立葉變換強度關聯成像(FGI)實驗方案
圖2 實驗樣品傅立葉變換衍射譜及實空間分布重構結果
(上圖:振幅分布,下圖:相位分布)