全基因組測序作為一項有重要價值的醫學手段,現在已可以診斷身患重度智力障礙(ID)的病人,而這些病患在以往其他所有的測試中結果都為陰性。相關新研究還發現了一些DNA上的具體異常,這些異常可能正是科學界一直未能找到的重度智力障礙發生的主要原因。
重度智力障礙是指在一般的金錢管理、閱讀識字、計算、日常生活等需要使用智力思考的行為中存在嚴重障礙。成因分為先天和後天兩種,後天的成因多見於腦部受到損傷,或是受到外在事物的刺激;而先天的智力障礙出現在0.5%的新生兒中,推測認為可能是由於染色體異常引起,但其卻具有不同的遺傳背景——這就意味著該種障礙的原因總體上還是不為人所知的。
據6月5日出版的英國《自然》雜誌上的一項遺傳學論文描述,基因晶片研究和外顯子測序一般會把注意力放在選定的一些基因或者DNA片段上,它們標出了一些並非來自父母的遺傳缺陷,包括基因結構上與序列上的變化。不過,儘管有了這些信息,重度智力障礙中的大多數案例一直以來沒有得到診斷。
為了研究這個多樣化的疾病廣泛的遺傳變異,荷蘭內梅亨大學醫學中心約裡斯·魏特曼和他的研究團隊,對50例重度智力障礙和他們沒有智力障礙的父母進行了全基因組測序。以前在這些病人身上做的基因篩查沒有發現任何疾病基因標記物,但這次分析發現了84個全新的序列變化——單核苷酸變異(簡稱SNVs)和8個全新的結構變異——拷貝數變異(簡稱CNVs),都與重度智力障礙相關。全基因組測序的方法成功診斷了研究對象中42%的病人。
此次研究結果顯示,新生的SNVs和CNVs突變對於編碼區DNA的影響,是重度智力障礙的一個重要原因。同時,該研究突出了全基因組測序作為診斷重度智力障礙工具的價值,其也可作為一個單獨的基因測試,對遺傳變異進行可靠的識別與全面描繪。