為廣泛徵求用戶的意見和需求,了解中國科學儀器市場的實際情況和儀器應用情況,儀器信息網自2008年6月1日開始,對不同行業有代表性的「100家實驗室」進行走訪參觀。2010年6月10日,儀器信息網工作人員參觀訪問了本次活動的第三十五站:北京北達燕園微構分析測試中心。
中心的國家計量認證(CMA)
北京北達燕園微構分析測試中心(http://www.msal.net)坐落於北京大學科技園內,創建於2006年,是一個專業以XRD(X射線衍射)和XRF(X射線螢光)為分析手段的測試機構,中心於2008年通過了國家計量認證(CMA),目前有工作人員約15人。
微構分析測試中心藏品:上世紀50年代的X射線粉末德拜照相機
微構分析測試中心藏品:上世紀60年代的X射線衍射平板照相機和粉末德拜照相機
微構分析測試中心藏品:上世紀60年代的X射線粉末高溫照相機和單晶回擺照相機
微構分析測試中心藏品:X射線衍射魏森堡單晶相機
該單晶照相機是上世紀60年代初北京大學化學系與中國科學院物理所等單位合作完成的我國重大科研成果「牛胰島素2.5?解析度晶體結構的測定」工作中使用的關鍵儀器。
一走入北京北達燕園微構分析測試中心,映入眼帘的是一個X射線衍射儀器發展史的展櫥,精美的櫥窗中展示了各個時代的X射線衍射儀器,牆上的展板記錄了歷史上所有與X射線儀器有關的諾貝爾獎獲得者,由此您便知該測試中心對X射線衍射技術的關注。
北京北達燕園微構分析測試中心主任江向峰熱情接待了儀器信息網的到訪人員,並詳細介紹了中心的定位、服務及發展目標。
定位:服務科研、研發的測試機構
當談到測試中心的定位時,江主任表示,「目前的分析測試活動主要可以分為三類:(1)強制檢測項目,即國家相關法規或標準規定要進行的檢驗檢測;(2)以企業自身產品質量控制需求為出發的測試活動;(3)以科學研究、技術開發為目的的測試活動。目前,絕大多數的第三方測試機構都屬於前兩種,我們中心則屬於第三種。但是第三種測試活動一直都是以學校或科研院所的實驗室為主體,因此以公司體制來運營,把測試活動作為一種科技服務產品提供給市場,是一種嘗試,我們正在進行探索。」
「近幾年,國家在進行科技條件平臺建設,北京市科委開展了首都科技條件平臺建設,平臺建設的目的就是為科研、研發服務,正好與我們測試中心的定位是一致的。但是平臺建設是政府行為,而我們要以企業為主體,通過市場來從事這樣的活動,我們要走出一條有別於完全依靠國家投資建設的測試機構的道路。當然,我們也渴望得到政府的扶持。」江主任補充,「在測試中心運行的短短幾年裡,中心為高新技術企業的研發活動提供了很多有效、及時的專業測試服務,符合中心的質量方針:科學、公正、準確、滿意。我們的客戶40%以上來自高新技術企業。」
經中心升級改造的日本理學轉靶X射線衍射儀
特色:實驗平臺搭建及實驗環境租用
關於測試中心的業務種類,江主任介紹到,中心的業務主要來源於以下幾個方面:(1)以X射線衍射儀為分析手段的測試業務;(2)X射線衍射儀相關實驗平臺的搭建;(3)以X射線衍射儀為主體的實驗環境的租用。
第一項業務應該是所有第三方測試機構的主業,而我們微構測試中心的特色在於後兩項業務,一可以提供租用機時的服務,有測試需求的客戶,在經過簡單培訓之後,可以自己進行樣品的測試與分析;二對於特殊需求的研發用戶,我們可以為用戶提供2KW至12KW功率的獨立X射線光源,配套各種實驗附件,為其搭建安全方便的專用實驗環境。
江主任表示,「當然,這些特色服務也是基於我們擁有專業的技術,以及我們所服務客戶的特殊性。高校和研究所的學生是我們的大客戶群,他們的檢測需求比較複雜,需要重新搭建實驗平臺,而我們正好有能力做這樣的工作。」
當筆者問及,是否擔心用戶自行操作造成儀器損壞時,江主任笑答,「我們是X射線衍射儀器的研發者,即便現在使用的商用儀器也已經被我們多次改造,維修、設備升級改造是我們的強項。」
研發:專注X射線衍射儀研發並實現產業化
「北京大學科技開發部衍射儀組是我們測試中心的前身,X射線衍射儀器的研發及產業化是我們測試中心的一個重要工作。測試中心的發起人江超華教授是我國最早從事X射線分析儀器研究與製造的專家。」 江主任說到。
微構分析測試中心研發,普析通用儀器公司產業化的XD-3型高精度自動粉末衍射儀
研發中的X射線能譜巖心掃描儀
在研發方面,測試中心取得了一系列成果,其中研發的XD-2型自動粉末衍射儀成為國家十五科技攻關項目「X射線衍射儀」採用的產業化機型;設計生產出我國第一臺採用θ-θ掃描技術的XD-3型高精度自動粉末衍射儀。如今,兩款儀器均在北京普析通用儀器有限責任公司實現了產業化,並且產品XD-3獲2007年北京分析測試學術報告會及展覽會(BCEIA2007)金獎,進入國家科技部2008重點推廣的國產分析儀器產品目錄。目前,我們正在研發用於「古氣候」研究的X射線能譜巖心掃描儀,預計今年年底結題,並有望推向市場。
北京北達燕園微構分析測試中心負責人江向峰先生與本網工作人員的合影
附件:
分析測試中心服務項目列表
序號 | 產品/ 產品類別 | 參數名稱 | 檢測標準(方法)名稱及編號(含年號) |
1 | 多晶材料 | 定性相分析 | 多晶體X射線衍射法通則JY/T 009-1996 |
定量相分析 | 多晶體X射線衍射法通則JY/T 009-1996 | ||
晶胞參數 | 多晶體X射線衍射法通則JY/T 009-1996 | ||
點陣畸變 | 多晶體X射線衍射法通則JY/T 009-1996 | ||
結晶度測定 | 多晶體X射線衍射法通則JY/T 009-1996 | ||
Rietveld分析 | 多晶體X射線衍射法通則JY/T 009-1996 | ||
2 | 礦物 | 晶胞參數 | 礦物晶胞參數的測定 粉末X射線衍射法J/T 553-1991 |
全巖礦物組成分析 | 多晶體X射線衍射法通則JY/T 009-1996 | ||
礦物原料分析 | 多晶體X射線衍射法通則JY/T 009-1996 | ||
沉積巖物相分析 | 沉積巖粘土礦物相對含量X射線衍射分析方法SY/T 5163-1995 | ||
沉積巖物相分析 | 沉積巖中粘土礦物總量和常見非粘土礦物X射線衍射定量分析方法SY/T 6210-1996 | ||
伊利石/蒙皂石間層礦物 | 伊利石/蒙皂石間層礦物X射線衍射鑑定方法SY/T 5983-1994(2002) | ||
α-Al2O3 | 剛玉磨料中α-Al2O3相X射線定量測定方法GB/T 14321-1993 | ||
水沉積物 | 用X射線衍射法作水沉積物中結晶化合物的識別方法ASTM D 934-1980 | ||
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| 滑石 | 滑石粉中閃石類石棉礦物的檢驗(滑石物理檢驗方法GB/T15344-94) |
3 | 納米材料 | 粒度分布 | 納米粉末粒度分布的測定 X射線小角散射法GB/T 13221-2004 |
4 | 二氧化鈦 | 晶型分析和晶體粒度 | 納米二氧化鈦GB/T 19591-2004 |
成分分析 | X射線衍射法測定二氧化鈦顏料中銳鈦和金紅石比率的試驗方法ASTM D 3720-1990 | ||
5 | 石油及相關產品 | 催化劑 | 多晶體X射線衍射法通則JY/T 009-1996 |
石油焦 | 鋁生產中使用的碳素材料.煅燒焦炭.用X-射線衍射法測定煅燒石油焦的晶體粒度ISO 20203-2005 | ||
硫 | 原油中硫含量的測定 能量色散X射線螢光光譜法GB/T 17606-1998 | ||
硫 | 石油產品硫含量測定法GB/T 17040-1997 | ||
硫 | 汽油中硫含量的測定法SH/T 0742-2004 | ||
6 | 鍍層/薄膜 | 厚度測定 | 多晶體X射線衍射法通則JY/T 009-1996 |
組成分析 | 多晶體X射線衍射法通則JY/T 009-1996 | ||
羥磷灰石 | 羥磷灰石等離子噴鍍層相含量的X射線衍射測定標準實施規範ASTM F 2024-2000 | ||
鎳-磷合金 | 金屬覆蓋層,鎳-磷合金鍍層,X射線衍射方法JB/T 8426-96 | ||
7 | 矽酸鹽/陶瓷 | 層狀結晶二矽酸鈉 | 層狀結晶二矽酸鈉試驗方法 δ相層狀結晶二矽酸鈉定性分析 X射線衍射儀法GB/T 19421.1-2003 |
γ-Al2O3 | 矽鋁催化劑中γ-Al2O3含量測定法(X射線衍射法)SH/T 0625-1995 | ||
成分測定 | 含4A沸石洗衣粉QB 1767-93 | ||
矽磚定量相分析 | 矽磚定量相分析.X射線衍射法YB/T 172-2000 | ||
伽馬鋁礬土 | 用X-射線粉末衍射法對觸煤劑中含矽和鋁礬土的觸煤劑中伽馬鋁礬土含量的試驗方法ASTM D 4926-2006 | ||
水泥和水泥熔渣階段比 | 用X射線粉末衍射分析法測定矽酸鹽水泥和矽酸鹽水泥熔渣階段比的標準試驗方法ASTM C 1365-2006 | ||
水泥X射線螢光分析 | 水泥X射線螢光分析通則GB/T 19140-2003 | ||
陶瓷相分析 | 高級工業陶瓷.陶瓷粉.鋯晶相的測定BS DD ENV 14273-2002 | ||
相成分及結晶度 | 羥基磷灰石生物陶瓷YY 0305-1998 | ||
8 | 金屬材料 | 物相分析 | 金屬材料定量相分析 X射線衍射K值法YB/T 5320-2006 |
碳化物 | 高速鋼中碳化物相的定量分析 X射線衍射儀法YB/T 5336-2006 | ||
殘餘奧氏體 | 鋼中殘餘奧氏體定量測定 X射線衍射儀法YB/T 5338-2006 | ||
點陣常數 | 金屬點陣常數的測定方法 X射線衍射儀法YB/T 5337-2006 | ||
晶粒大小 | 用X射線衍射儀測定金屬晶體中晶粒大小的方法JIS H7805-2005 | ||
織構分析 | 多晶體X射線衍射法通則JY/T 009-1996 | ||
長程有序度 | 多晶體X射線衍射法通則JY/T 009-1996 | ||
無損檢測 | 貴金屬首飾含量的無損檢測方法 X射線螢光光譜法GB/T 18043-2000 | ||
9 | 表面分析 | 矽片表面元素汙染物 | 表面化學分析.採用全反射X射線螢光(TXRF)光譜法對矽片表面元素汙染物的測定BS ISO 14706-2001 |
10 | 元素分析 | 部分參數 | TXRF原理和定義DIN 51003 |
11 | 醫藥 | 結構鑑別 | 多晶體X射線衍射法通則JY/T 009-1996 |
指紋譜分析 | 多晶體X射線衍射法通則JY/T 009-1996 |
測試中心地址:北京市海澱區中關村北大街116號.北京大學科技園孵化器2號樓2112室
聯繫人:江向峰先生
聯繫電話:010-58874029\58874028 轉800
附:
北京北達燕園微構分析測試中心展位
http://www.woyaoce.cn/member/T100672/