網絡講堂:導電原子力顯微鏡(C-AFM)在二維材料及納米電子器件中的...

講座時間：

北京時間10月31日（周四）

下午15:00-16:00

 導電原子力顯微鏡（C-AFM）是一種非常有用的掃描探針顯微鏡（SPA）納米表徵技術，它不僅可以對樣品的形貌進行表徵，更重要的是可以探測許多介質材料和電子器件的局部電學性質。C-AFM技術已經成功表徵了介質薄膜的許多重要的納米級現象，比如：局部缺陷、電荷捕獲和釋放、應力誘導漏電流、負偏置溫度不穩定性等。

  目前，隨著電子器件尺寸和介電材料厚度的不斷縮減，納米級電學性質表徵技術手段的應用和發展變得日益重要。本講座首先簡要介紹C-AFM技術的發展歷程、工作原理、工作特點及方式；其次重點介紹C-AFM技術在二維材料和憶阻器中的電學表徵應用。

  具體內容是利用C-AFM技術：1.研究化學氣相沉積法製備的六方氮化硼（h-BN）的電學性質：介質擊穿特性和厚度及電學性質均一性；2.在不同環境（大氣和真空）下探測h-BN基憶阻器的阻變特性及導電細絲的形態表徵；3.通過與其它電學設備相結合，實現更高性能的技術表徵。最後，探討未來多探針SPA技術的發展概念，有望實現在真空環境下對材料或器件的原位製備和表徵。

主講人介紹：

 惠飛博士，現以色列理工學院博士後，2018年7月獲得巴塞隆納大學和蘇州大學雙博士學位。在攻讀博士期間，她曾先後到世界頂級名校美國麻省理工學院和英國劍橋大學進行為期12個月和6個月的訪學。在科研方面，5年時間內，她共參與發表SCI期刊學術論文38篇，其中，一作論文11篇，包括頂級期刊Nature Electronics, AdvancedFunctional Materials, ACS Applied Materials & Interfaces, 2D Materials, Nanoscale等。另外，她還參與德國Wiley出版的專著篇章一部，獲批國家發明專利一項，申請國際專利兩項，參與申請國際間/國家自然科學基金項目等8項。曾獲得2019 ParkAFM博後獎學金、英國皇家化學會學者獎學金等。她的主要研究領域是化學氣相沉積法製備二維材料及其在電子器件領域內的應用。

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